GRPLT常见问题
1. 晶体校准原理是什么?
GU模块在测试开始时启动PWM,向DUT对应的IO口发送特定方波信号,DUT以此方波为基准进行校准。当前采用40 Hz方波,以64M运行速率计算一个周期内的计数,则期望的计数为:
$$ 64M \times 1 \div 40 = 1.6M $$
对应的卡控阈值算法为:
$$ N = X \div 1.6 $$
其中N为期望PPM,X为计数偏移(即工单设置中的ErrLimit)。当前工单的默认卡控阈值为60,PPM为37.5。原则上偏移值不应该超过80(即50 PPM)。当偏移较大时,蓝牙很容易断连。
2. RSSI测试方法是什么?
GU模块在测试开始时会作为Slave广播数据(广播数据值为6字节的随机值,以便区分不同工位GU的广播信号),DUT会作为Master进行SCAN,获取RSSI值。(GR533x和GR5625均不支持RSSI,后续新型号均无支持计划。)
3. 新版在线工具(V1.5.0.0.4后).bin文件放哪里?
新版工单生成器在打开.bin文件时会保存在内存,保存工单后将所有内容都保存于工单中,并对工单进行加密。
4. 什么时候需要二次开发?
需要与MES或类似系统对接
需要加载自定义的动态Flash数据
需要动态生成蓝牙地址
需要扫描SN码,并写入机器中
需要使用特定的界面
5. 自定义加密与Goodix加密有何不同?
GOODIX加密为硬件加密,使用Goodix Bluetooth LE内部加密模块对Flash进行加密,并关闭SWD,此操作不可逆,应用固件也需要加密才能运行,是硬件的自动加密;自定义加密,为客户根据eFuse写入的信息,对某些Flash数据进行软件加密(如NVDS数据或Flash资源文件),若客户想不再使用加密,则重新烧录即可。
6. 具报0x1A不良(测试固件运行失败),可能是什么原因?
检查工单与模组是否匹配,不带外部32.768K晶体的DUT,不可使用带外部晶体的工单。
SRAM有问题,可通过Dump Flash查看Flash数据是否与测试固件一致。
若为硬件加密环境,且DUT已经加密,则可能是DUT中的KEY INFO与测试固件的密钥不匹配,无法成功解密。
7. 在线工具报0xFC不良(测试固件下载失败),可能是什么原因?
检查PLT到DUT UART的杜邦线是否质量合格,太细的线容易受干扰。
治具存在干扰,可通过飞线进行排查。
使用的外挂Flash不适配,通过替换别品牌的Flash进行排除。
PCBA走线存在干扰。
PLT到DUT的UART连接线太长,当前PLT可稳定支持长度为1.5m,超过此长度通讯或受干扰。
8. 报0x10不良(晶体校准异常),可能是什么原因?
若大多数模组有此问题,则可能是选择的校准口不正确或者是校准脚有问题。校准脚问题可能是治具上有电容,或者是PCBA上有电容,导致PWM波型不准,校准不通过。
若个别模组有此问题,可能是阈值卡太严、晶振误差太大等。
9. 报0x12错误(烧录异常),可能是什么原因?
0x12是在烧录环节出现异常时均带有此错误码,具体需要看附带的错误码。
0x15或0x16:此为烧录资源或固件失败,查看CSV Log文件中的“LoadFW”列可知具体失败原因。若为“Error of Program Start”,多发生于中转外部Flash下载,配置的端口有问题;若为“Error of Program Data”,此为烧录Flash途中出错,可参考测试固件下载失败问题进行处理;若为“Error of Program End”,此为最后的校验出错,联系原厂人员进行查看。
没有其他附带的错误码:查看CSV Log中的“Fail Log”可知具体错误内容,目前多为“Product_info Error”,出现此错误说明eFuse中的校准值与蓝牙地址有问题,可使用GRPLT的eFuse界面读取完整的eFuse内容给原厂进行分析。
10. 启动GRPLT后,连接DUT时,点击“Start”无响应,可能是什么原因?
DUT设计有问题,DC-DC电路设计不符合规范,导致DUT无法正常启动,无法识别。
治具针脚通讯不良,DUT无法正确返回命令,无法识别。
11. 打开GRPLT后,没有显示16个小窗口,可能是什么原因?
PLT使用FTDI的USB转串口芯片,使用PLT前需要正确安装FTDI的驱动。下载驱动完毕后,可通过Windows设备管理器的端口(COM和LPT)页面查看是否正确识别。安装成功时,列表中将出现17或18个COM口(USB Serial Port)。安装失败时,若全部识别不到,则重新安装驱动;若个别识别不到,则可右键点击COM口,手动更新驱动。