GRPLT Lite常见问题

1. 晶体校准原理是什么？

• GU模块在测试开始时启动PWM，向DUT对应的IO口发送特定方波信号，DUT以此方波为基准进行校准。当前采用40 Hz方波，以64M运行速率计算一个周期内的计数，则期望的计数为：

  $$ 64M \times 1 \div 40 = 1.6M $$

• 对应的卡控阈值算法为：

  $$ N = X \div 1.6 $$

• 其中N为期望PPM，X为计数偏移（即工单设置中的ErrLimit）。当前工单的默认卡控阈值为60，PPM为37.5。原则上偏移值不应该超过80（即50 PPM）。当偏移较大时，蓝牙很容易断连。

2. RSSI测试方法是什么？

• GU模块在测试开始时会作为Slave进行广播数据（广播数据值为6字节的随机值，以便区分不同工位GU的广播信号），DUT会作为Master进行SCAN，获取RSSI值。（GR533x和GR5625均不支持RSSI，后续新型号均无支持计划。）

3. 自定义加密与Goodix加密有何不同？

• GOODIX加密为硬件加密，使用Goodix Bluetooth LE内部加密模块对Flash进行加密，并关闭SWD，此操作不可逆，应用固件也需要加密才能运行，是硬件的自动加密；自定义加密，为客户根据eFuse写入的信息，对某些Flash数据进行软件加密（如NVDS数据或Flash资源文件），若客户想不再使用加密，则重新烧录即可。

4. 测试固件运行失败（0x39），可能是什么原因？

• 检查工单与模组是否匹配，不带外部32.768K晶体的DUT，不可使用带外部晶体的工单。

• SRAM有问题，可通过Dump Flash查看Flash数据是否与测试固件一致。

• 若为硬件加密环境，且DUT已经加密，则可能是DUT中的KEY INFO与测试固件的密钥不匹配，无法成功解密。

5. 测试固件下载失败（0x37、0x38），可能是什么原因？

• 检查PLT-Lite到DUT UART的杜邦线是否质量合格，太细的线容易受干扰。

• 治具存在干扰，可通过飞线进行排查。

• 使用的外挂Flash不适配，通过替换别品牌的Flash进行排除。

• PCBA走线存在干扰。

6. 晶体校准异常（0x3A、0x3B、0x3C），可能是什么原因？

• 若大多数模组有此问题，则可能是选择的校准口不正确或者是校准脚有问题。校准脚问题可能是治具上有电容，或者是PCBA上有电容，导致PWM波型不准，校准不通过。

• 若个别模组有此问题，可能是阈值卡太严、晶振误差太大等。

7. 端口自启动测试耗时长，如何解决？

• 自启动测试为防呆，会对端口状态进行二次检测，此间隔默认时间为1.5s。若用户希望加快速度，可根据现场情况将检测间隔缩短。